無錫(xi)冠(guan)亞射(she)流式高低溫(wen)沖擊測(ce)試機熱流儀適合元器件測(ce)試用設備(bei)，在(zai)用于惡劣環境(jing)的(de)半導體(ti)電(dian)子(zi)元件的(de)制造中，IC封裝組裝和工程和生產的(de)測(ce)試階(jie)段(duan)包括在(zai)溫(wen)度(du)（-85℃至+ 250℃）下的(de)電(dian)子(zi)冷熱測(ce)試和其他環境(jing)測(ce)試模擬。