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簡要描(miao)述：【無錫冠亞】半導(dao)體控溫(wen)解(jie)決方案主要產品包括半導(dao)體專(zhuan)?溫(wen)控設備(bei)(bei)、射流式(shi)?低溫(wen)沖擊測試機(ji)和半導(dao)體??藝廢?處理裝(zhuang)置等(deng)?設備(bei)(bei)，?泛應?于(yu)半導(dao)體、LED、LCD、太(tai)陽能光(guang)伏等(deng)領(ling)域。半導(dao)體集成(cheng)電(dian)路Chiller 元器(qi)件測試用設備(bei)(bei)
產品型號(hao)：LTS-202廠商性質：生產廠家更(geng)新(xin)時間：2023-12-20訪(fang) 問 量：68| 品牌 | 冠亞制冷 | 冷卻方式 | 水冷式 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 10萬-50萬 | 產地類別 | 國產 |
| 儀器種類 | 一體式 | 應用領域 | 化工,生物產業,電子,制藥,汽車 |
主要產(chan)品包括半(ban)導(dao)體專?溫(wen)控設備、射流(liu)式?低溫(wen)沖擊測試機和半(ban)導(dao)體??藝廢?處理(li)裝置等?設備，
?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽能光伏等領域。
半(ban)導體專溫控設備
射流(liu)式?低溫沖擊測(ce)試(shi)機
半導體專用溫(wen)控設備(bei)chiller
Chiller氣體降溫控溫系統
Chiller直冷型(xing)
循(xun)環(huan)風(feng)控(kong)溫裝置
半導體?低(di)溫測試設備
電?設備?溫低溫恒溫測(ce)試冷熱源
射流(liu)式高低溫(wen)沖擊測試機(ji)
快(kuai)速溫變控溫卡盤(pan)
數據中心液(ye)冷解決方案
| 型號 | FLT-002 | FLT-003 | FLT-004 | FLT-006 | FLT-008 | FLT-010 | FLT-015 |
| FLT-002W | FLT-003W | FLT-004W | FLT-006W | FLT-008W | FLT-010W | FLT-015W | |
| 溫度范圍 | 5℃～40℃ | ||||||
| 控溫精度 | ±0.1℃ | ||||||
| 流量控制 | 10～25L/min 5bar max | 15～45L/min 6bar max | 25～75L/min 6bar max | ||||
| 制冷量at10℃ | 6kw | 8kw | 10kw | 15 kw | 20kw | 25kw | 40kw |
| 內循環液容積 | 4L | 5L | 6L | 8L | 10L | 12L | 20L |
| 膨脹罐容積 | 10L | 10L | 15L | 15L | 20L | 25L | 35L |
| 制冷劑 | R410A | ||||||
| 載冷劑 | 硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等 （DI溫度需要控制10℃以上） | ||||||
| 進出接口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 |
| 冷卻水口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 | ZG1 | ZG1 1/8 |
| 冷卻水流量at20℃ | 1.5m3/h | 2m3/h | 2.5m3/h | 4m3/h | 4.5m3/h | 5.6m3/h | 9m3/h |
| 電源380V | 3.5kW | 4kW | 5.5kW | 7kW | 9.5kW | 12kW | 16kW |
| 溫度擴展 | 通過增加電加熱器，擴展-25℃～80℃ | ||||||
半導體集成電路Chiller 元器件測試用設備
半導體集成電路Chiller 元器件測試用設備
在半導體制(zhi)造過程中，冠(guan)亞制(zhi)冷(leng)的冷(leng)卻(que)設備chiller的作用大家有(you)目共睹。本文將介紹介質刻蝕雙通道(dao)chiller調試過程中的注意事項(xiang)。
一、準備工(gong)作
在(zai)進行介質刻蝕雙通道chiller調試(shi)之前，先(xian)要(yao)確保所有準備工作已(yi)經(jing)完(wan)成(cheng)。這包括：
1、確認(ren)介質(zhi)刻蝕雙通道chiller安(an)裝正確(que)：檢查設(she)備的安(an)裝位(wei)置(zhi)、管(guan)道連接等是否符合設(she)計要求(qiu)。
2、電(dian)(dian)源連接(jie)：確保電(dian)(dian)源連接(jie)穩定(ding)，并(bing)按(an)照介(jie)質刻蝕雙通道(dao)chiller規格書(shu)的要求設置電源參數。
3、閥門(men)和(he)(he)儀表校(xiao)準：檢查所有的閥門(men)和(he)(he)儀表是否(fou)已(yi)經校(xiao)準，確(que)保測(ce)量準確(que)。
二(er)、調試(shi)過(guo)程(cheng)
1、啟(qi)動順序：按照介質刻蝕(shi)雙通道chiller手冊的(de)啟動順(shun)序進(jin)行(xing)啟動，確(que)保每個(ge)步(bu)驟都正(zheng)確(que)無誤。
2、參數(shu)設置：根據介質刻(ke)蝕(shi)雙通道(dao)chiller規格書的(de)要(yao)求，設置合適的(de)參(can)數，如(ru)冷卻(que)水流量、溫度等。
3、運(yun)行測試(shi)：在(zai)介質刻蝕雙通(tong)道(dao)chiller運行過(guo)程(cheng)中，密切關注各項參數的(de)變化(hua)，確保介質刻蝕雙通道chiller正常運(yun)行(xing)。
4、故障排查：如果介質刻(ke)蝕雙通(tong)道chiller出現(xian)故障(zhang)，根據故障(zhang)現(xian)象進(jin)行排查，找出故障(zhang)原(yuan)因(yin)并(bing)進(jin)行修復。
