簡要描(miao)述:【無錫冠亞(ya)】半(ban)導(dao)(dao)(dao)體(ti)控(kong)溫(wen)(wen)解決(jue)方案(an)主要產品包括半(ban)導(dao)(dao)(dao)體(ti)專?溫(wen)(wen)控(kong)設(she)備、射流式?低溫(wen)(wen)沖(chong)擊測(ce)試機(ji)和(he)半(ban)導(dao)(dao)(dao)體(ti)??藝廢?處理裝置等?設(she)備,?泛應?于半(ban)導(dao)(dao)(dao)體(ti)、LED、LCD、太陽(yang)能光伏等領(ling)域。半(ban)導(dao)(dao)(dao)體(ti)溫(wen)(wen)控(kong)機(ji)Chiller 芯片循環(huan)制(zhi)冷機(ji)
品牌 | 冠亞制冷 | 冷卻方式 | 水冷式 |
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價格區間 | 10萬-50萬 | 產地類別 | 國產 |
儀器種類 | 一體式 | 應用領域 | 化工,生物產業,電子,制藥,汽車 |
主要產品包(bao)括半導(dao)(dao)體專?溫(wen)控設備、射流式?低溫(wen)沖擊測試機和半導(dao)(dao)體??藝廢?處理裝置(zhi)等?設備,
?泛(fan)應?于半導體、LED、LCD、太陽能光伏等(deng)領域。
半導體(ti)專溫控設備(bei)
射流式(shi)?低溫沖(chong)擊測(ce)試機
半導體(ti)專(zhuan)用溫控設備chiller
Chiller氣體(ti)降(jiang)溫控溫系統(tong)
Chiller直冷型
循環風控溫裝置
半(ban)導體?低溫(wen)測試(shi)設(she)備(bei)
電(dian)?設備?溫低溫恒溫測試冷熱(re)源
射流式(shi)高(gao)低溫沖擊測試機
快速溫變控溫卡(ka)盤
數據(ju)中(zhong)心液冷解(jie)決(jue)方案
型號 | FLT-002 | FLT-003 | FLT-004 | FLT-006 | FLT-008 | FLT-010 | FLT-015 |
FLT-002W | FLT-003W | FLT-004W | FLT-006W | FLT-008W | FLT-010W | FLT-015W | |
溫度范圍 | 5℃~40℃ | ||||||
控溫精度 | ±0.1℃ | ||||||
流量控制 | 10~25L/min 5bar max | 15~45L/min 6bar max | 25~75L/min 6bar max | ||||
制冷量at10℃ | 6kw | 8kw | 10kw | 15 kw | 20kw | 25kw | 40kw |
內循環液容積 | 4L | 5L | 6L | 8L | 10L | 12L | 20L |
膨脹罐容積 | 10L | 10L | 15L | 15L | 20L | 25L | 35L |
制冷劑 | R410A | ||||||
載冷劑 | 硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等 (DI溫度需要控制10℃以上) | ||||||
進出接口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 |
冷卻水口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 | ZG1 | ZG1 1/8 |
冷卻水流量at20℃ | 1.5m3/h | 2m3/h | 2.5m3/h | 4m3/h | 4.5m3/h | 5.6m3/h | 9m3/h |
電源380V | 3.5kW | 4kW | 5.5kW | 7kW | 9.5kW | 12kW | 16kW |
溫度擴展 | 通過增加電加熱器,擴展-25℃~80℃ |
半導體溫控機Chiller 芯片循環制冷機
半導體溫控機Chiller 芯片循環制冷機
在半導體制造(zao)過程(cheng)中(zhong),冠亞制冷的(de)冷卻設備chiller的作用(yong)大家有目共睹。本文將介紹介質刻(ke)蝕雙(shuang)通道(dao)chiller調試過(guo)程中(zhong)的注意事項(xiang)。
1、穩定運行:在調(diao)試過程(cheng)中,始終要牢記安全的原則,避免可(ke)能(neng)導致安全事故的行為。
2、記錄數據(ju):對調試過程中的所有數據(ju)進行記錄,以(yi)便后續分(fen)析和故障排查。
3、遵循規范:嚴(yan)格遵守介質刻蝕雙通(tong)道chiller手冊和相關規(gui)范進(jin)行調試,確保調試結果的準確性(xing)和可靠性(xing)。
4、團隊(dui)(dui)協(xie)作:在(zai)調試過程中,與團隊(dui)(dui)成(cheng)員保持良(liang)好的(de)溝(gou)通,共同解決問題(ti),提高調試效率(lv)。
總之,介質刻蝕(shi)雙通道chiller的調試(shi)(shi)是一項復雜的工作。在調試(shi)(shi)過程中(zhong),需要注意細節,嚴格遵守(shou)規范,確保(bao)(bao)設備正常運行(xing),為半導體制造(zao)提(ti)供穩(wen)定的冷卻保(bao)(bao)障。