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簡要描述：【無(wu)錫冠亞】半導(dao)(dao)體控溫(wen)解決方(fang)案主(zhu)要產品(pin)包括半導(dao)(dao)體專?溫(wen)控設備、射流(liu)式(shi)?低溫(wen)沖擊測試(shi)機(ji)和半導(dao)(dao)體??藝廢?處(chu)理裝置等?設備，?泛應?于半導(dao)(dao)體、LED、LCD、太陽能光伏(fu)等領域。-100℃射流(liu)高低溫(wen)沖擊測試(shi)機(ji) 熱流(liu)儀
產品型號：LTS-202廠商性質：生產廠家更(geng)新時間(jian)：2023-11-13訪 問 量：152| 品牌 | LNEYA/無錫冠亞 | 冷卻方式 | 水冷式 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 10萬-50萬 | 產地類別 | 國產 |
| 儀器種類 | 一體式 | 應用領域 | 化工,生物產業,電子,制藥,汽車 |
主(zhu)要(yao)產(chan)品包括半(ban)導體專?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機(ji)和半(ban)導體??藝廢?處理裝置等(deng)?設備，
?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽能光伏等領(ling)域。
半導體專溫控(kong)設備
射(she)流式?低溫沖(chong)擊(ji)測試機
半導體專用(yong)溫控設(she)備(bei)chiller
Chiller氣體降溫(wen)控(kong)溫(wen)系統
Chiller直冷型
循(xun)環風控溫裝置
半導(dao)體?低溫測試(shi)設備(bei)
電?設備?溫低溫恒(heng)溫測試冷(leng)熱源
射流(liu)式(shi)高低(di)溫沖擊測試機
快速(su)溫(wen)變控溫(wen)卡盤
數據中心(xin)液冷解決方案
| 型號 | FLT-002 | FLT-003 | FLT-004 | FLT-006 | FLT-008 | FLT-010 | FLT-015 |
| FLT-002W | FLT-003W | FLT-004W | FLT-006W | FLT-008W | FLT-010W | FLT-015W | |
| 溫度范圍 | 5℃～40℃ | ||||||
| 控溫精度 | ±0.1℃ | ||||||
| 流量控制 | 10～25L/min 5bar max | 15～45L/min 6bar max | 25～75L/min 6bar max | ||||
| 制冷量at10℃ | 6kw | 8kw | 10kw | 15 kw | 20kw | 25kw | 40kw |
| 內循環液容積 | 4L | 5L | 6L | 8L | 10L | 12L | 20L |
| 膨脹罐容積 | 10L | 10L | 15L | 15L | 20L | 25L | 35L |
| 制冷劑 | R410A | ||||||
| 載冷劑 | 硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等 （DI溫度需要控制10℃以上） | ||||||
| 進出接口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 |
| 冷卻水口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 | ZG1 | ZG1 1/8 |
| 冷卻水流量at20℃ | 1.5m3/h | 2m3/h | 2.5m3/h | 4m3/h | 4.5m3/h | 5.6m3/h | 9m3/h |
| 電源380V | 3.5kW | 4kW | 5.5kW | 7kW | 9.5kW | 12kW | 16kW |
| 溫度擴展 | 通過增加電加熱器，擴展-25℃～80℃ | ||||||
-100℃射流高低溫沖擊測試機 熱流儀
-100℃射流高低溫沖擊測試機 熱流儀
射流(liu)式高低(di)溫沖擊測試機(ji)給芯片、模塊、集成電(dian)路板、電(dian)子元器件等提供精確且快速的環境溫度。
是對產品電性(xing)能測試、失(shi)效(xiao)分析、可(ke)靠性(xing)評估的儀器(qi)設備。
溫(wen)度控制范(fan)圍：-120℃ 至+300℃，升(sheng)降(jiang)溫(wen)速(su)率(lv)?常(chang)快(kuai)速(su)，150℃?-55℃＜10秒(miao)，zui??流量：30m3/h；
實時(shi)監控被測IC真實溫度,實現閉(bi)環反饋(kui)，實時(shi)調(diao)整?體溫度升降(jiang)溫時(shi)間可控，程序化操(cao)(cao)作(zuo)、?動操(cao)(cao)作(zuo)、遠程控制
光模(mo)塊高低(di)溫(wen)(wen)測試設(she)備(bei)(bei)是用(yong)于(yu)測試半導(dao)體芯(xin)片在不同溫(wen)(wen)度環(huan)境下(xia)的(de)性能和(he)可靠(kao)性的(de)重要設(she)備(bei)(bei)，為(wei)了確保(bao)測試結(jie)果的(de)準確性和(he)設(she)備(bei)(bei)的(de)長(chang)期使用(yong)，需(xu)要進行(xing)定期的(de)維(wei)護保(bao)養。下(xia)面將介紹光模(mo)塊高低(di)溫(wen)(wen)測試設(she)備(bei)(bei)的(de)維(wei)護保(bao)養知識。
1、設備(bei)外觀檢查
定期檢(jian)查(cha)光模塊高低溫測試設(she)備的外觀，包括(kuo)機(ji)器(qi)外殼、控制面板、電源(yuan)線、電纜等。如(ru)有發現(xian)損(sun)壞或異常，應及時維修(xiu)或更(geng)換。
2、設備(bei)內部清潔
清潔光模(mo)塊高低溫測試設備(bei)內(nei)部(bu)是維護保養(yang)的(de)重要步驟(zou)。使用干(gan)燥的(de)壓縮(suo)空氣(qi)或無塵(chen)布(bu)清潔設備(bei)內(nei)部(bu)，特別(bie)是冷凝(ning)器、散(san)熱器、電氣(qi)部(bu)件等部(bu)位。確保設備(bei)內(nei)部(bu)沒有灰塵(chen)和污垢(gou)，以(yi)保證(zheng)設備(bei)的(de)散(san)熱效果(guo)和電氣(qi)性(xing)能。
3、設備管路(lu)檢查
檢(jian)查光模塊(kuai)高低溫測試(shi)設備的(de)管(guan)(guan)路系統，包括制冷和加熱部分。確保(bao)管(guan)(guan)路沒(mei)有(you)漏(lou)液、堵塞或(huo)(huo)老化(hua)等問題。如有(you)異常，應及時維(wei)修或(huo)(huo)更換。
4、設(she)備電氣(qi)檢(jian)查
檢查(cha)光(guang)模塊高低溫測試設備的電(dian)(dian)氣(qi)(qi)部(bu)件(jian)，包(bao)括電(dian)(dian)源、電(dian)(dian)纜、接(jie)線(xian)端子、傳(chuan)感器(qi)等(deng)。確(que)保(bao)電(dian)(dian)氣(qi)(qi)部(bu)件(jian)沒有過熱、松動或損(sun)壞(huai)等(deng)問題。如有異常，應(ying)及時維修或更換。
