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無錫冠亞射(she)流式(shi)高低溫(wen)沖(chong)擊測(ce)試(shi)機給芯片、模(mo)塊、集成電(dian)路(lu)板、電(dian)子元器(qi)件等(deng)提供快(kuai)速的(de)環境溫(wen)度。是對產品電(dian)性能測(ce)試(shi)、失效分析(xi)、可靠性評估*的(de)儀器(qi)設備。廣泛應用(yong)于半導體企(qi)業、航空航天、光通訊、高校、研究所等(deng)領(ling)域。快(kuai)速溫(wen)度循(xun)環試(shi)驗(yan)箱的(de)使用(yong)安全須(xu)知

無錫(xi)冠(guan)亞射流式高(gao)低溫(wen)(wen)沖擊測(ce)試機(ji)給芯片(pian)、模(mo)塊(kuai)、集成電路板、電子元器件等提供(gong)快速的環境溫(wen)(wen)度。是對產品電性能測(ce)試、失效(xiao)分析、可(ke)靠性評估*的儀器設備(bei)。廣泛應(ying)用于半導體企(qi)業、航(hang)空(kong)航(hang)天、光(guang)通訊、高(gao)校、研(yan)究(jiu)所等領(ling)域。小型快速溫(wen)(wen)度變化試驗箱的選購要點

無錫冠亞射流式高低(di)溫沖擊(ji)測(ce)試(shi)機給芯片、模塊、集(ji)成電路板、電子元(yuan)器件等(deng)(deng)提供快速的環境溫度。是對產品(pin)電性能測(ce)試(shi)、失效分析、可靠(kao)性評(ping)估*的儀(yi)器設(she)備(bei)。廣泛應(ying)用于(yu)半導體企業、航(hang)空航(hang)天、光通訊、高校、研究所等(deng)(deng)領域。氣流溫度沖擊(ji)系統的相關知(zhi)識普及