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射流(liu)式(shi)高(gao)低溫沖擊測(ce)試(shi)(shi)機(ji)給(gei)芯片(pian)、模塊、集成電路板、電子元器(qi)件等提供快速的環境溫度。是對(dui)產品(pin)電性能(neng)測(ce)試(shi)(shi)、失效分析(xi)、可靠性評估*的儀器(qi)設備(bei)。廣泛應(ying)用于半(ban)導(dao)體企業、航空航天、光(guang)通訊、高(gao)校、研(yan)究(jiu)所等領域。IC芯片(pian)溫度沖擊測(ce)試(shi)(shi)機(ji)清潔保養