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簡(jian)要描述：【無錫冠亞】半導(dao)(dao)體控(kong)(kong)溫解決方案(an)主要產品(pin)包括半導(dao)(dao)體專?溫控(kong)(kong)設備、射流式?低溫沖擊(ji)測試機和半導(dao)(dao)體??藝廢?處理(li)裝置(zhi)等?設備，?泛(fan)應?于半導(dao)(dao)體、LED、LCD、太陽能光伏等領域。-60℃射流高低溫沖擊(ji)測試機 Chiller直冷(leng)型(xing)
產品型號：LTS-202廠商性質：生產廠家更新時(shi)間：2023-11-13訪 問(wen) 量：115| 品牌 | LNEYA/無錫冠亞 | 冷卻方式 | 水冷式 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 10萬-50萬 | 產地類別 | 國產 |
| 儀器種類 | 一體式 | 應用領域 | 化工,生物產業,電子,制藥,汽車 |
主要產品包括半導(dao)(dao)體專(zhuan)?溫(wen)控設備、射流式?低溫(wen)沖擊(ji)測試機和半導(dao)(dao)體??藝(yi)廢?處理裝置等?設備，
?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽能光伏等領(ling)域。
半(ban)導(dao)體(ti)專溫控(kong)設備(bei)
射流(liu)式?低溫沖(chong)擊測試機
半導體專(zhuan)用(yong)溫控設備chiller
Chiller氣(qi)體降溫控溫系統
Chiller直冷型(xing)
循環風控溫(wen)裝置
半導(dao)體?低溫測試設備(bei)
電(dian)?設備(bei)?溫(wen)(wen)低溫(wen)(wen)恒溫(wen)(wen)測試冷熱源
射(she)流式高低(di)溫沖擊(ji)測試(shi)機(ji)
快速溫(wen)(wen)變控溫(wen)(wen)卡盤
數據中心液冷解(jie)決方(fang)案(an)
| 型號 | FLT-002 | FLT-003 | FLT-004 | FLT-006 | FLT-008 | FLT-010 | FLT-015 |
| FLT-002W | FLT-003W | FLT-004W | FLT-006W | FLT-008W | FLT-010W | FLT-015W | |
| 溫度范圍 | 5℃～40℃ | ||||||
| 控溫精度 | ±0.1℃ | ||||||
| 流量控制 | 10～25L/min 5bar max | 15～45L/min 6bar max | 25～75L/min 6bar max | ||||
| 制冷量at10℃ | 6kw | 8kw | 10kw | 15 kw | 20kw | 25kw | 40kw |
| 內循環液容積 | 4L | 5L | 6L | 8L | 10L | 12L | 20L |
| 膨脹罐容積 | 10L | 10L | 15L | 15L | 20L | 25L | 35L |
| 制冷劑 | R410A | ||||||
| 載冷劑 | 硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等 （DI溫度需要控制10℃以上） | ||||||
| 進出接口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 |
| 冷卻水口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 | ZG1 | ZG1 1/8 |
| 冷卻水流量at20℃ | 1.5m3/h | 2m3/h | 2.5m3/h | 4m3/h | 4.5m3/h | 5.6m3/h | 9m3/h |
| 電源380V | 3.5kW | 4kW | 5.5kW | 7kW | 9.5kW | 12kW | 16kW |
| 溫度擴展 | 通過增加電加熱器，擴展-25℃～80℃ | ||||||
-60℃射流高低溫沖擊測試機 Chiller直冷型
-60℃射流高低溫沖擊測試機 Chiller直冷型
射(she)流式高低溫沖擊測試機給(gei)芯片、模塊(kuai)、集成電路板、電子元(yuan)器件等(deng)提供精確且(qie)快速的環境溫度。
是對產品電性能(neng)測試、失效分(fen)析、可靠性評估的儀器設備。
溫度控制范圍：-120℃ 至+300℃，升降(jiang)溫速(su)率?常(chang)快速(su)，150℃?-55℃＜10秒，zui??流量：30m3/h；
實(shi)(shi)時(shi)監控(kong)(kong)被測IC真實(shi)(shi)溫度(du),實(shi)(shi)現閉(bi)環(huan)反饋，實(shi)(shi)時(shi)調整?體溫度(du)升降溫時(shi)間可(ke)控(kong)(kong)，程(cheng)序(xu)化(hua)操作(zuo)、?動操作(zuo)、遠程(cheng)控(kong)(kong)制
高低(di)(di)溫(wen)(wen)循環(huan)測(ce)試系(xi)統廣(guang)泛應用于材料科學(xue)、工程、質(zhi)量控制(zhi)等領域，它(ta)能夠在不同的溫(wen)(wen)度(du)條件下(xia)對樣品進(jin)行測(ce)試，以評估(gu)其性能和可靠性。本文(wen)將介(jie)紹高低(di)(di)溫(wen)(wen)循環(huan)測(ce)試系(xi)統的基本原理、特點(dian)、應用以及未來發(fa)展趨(qu)勢(shi)。
一、高(gao)低溫循(xun)環測(ce)試系統的基本原理
高(gao)低溫(wen)循(xun)環測試系統基于溫(wen)度循(xun)環控(kong)制原理(li)，通過加熱和制冷技術，使樣品處于高(gao)溫(wen)和低溫(wen)之間(jian)循(xun)環交(jiao)替的(de)環境中。在高(gao)溫(wen)狀(zhuang)態(tai)(tai)下，樣品會(hui)受(shou)到熱應力(li)的(de)作用(yong)，而在低溫(wen)狀(zhuang)態(tai)(tai)下，則會(hui)受(shou)到冷應力(li)的(de)作用(yong)。通過這種方式，可(ke)以(yi)模擬(ni)樣品在不同溫(wen)度下的(de)性能(neng)表(biao)現(xian)，并對其結構和性能(neng)進行深入研究。
二、高低溫循環測試系(xi)統(tong)的應用
高低溫循環測試系統在許(xu)多領域都(dou)有廣泛的應用，如(ru)：
1、材(cai)料科學：通(tong)過對材(cai)料進行(xing)高低溫循環測試，可以研究材(cai)料的結構、性能和可靠性，為(wei)新材(cai)料的研發(fa)提(ti)供重要依據。
2、電(dian)子(zi)(zi)產(chan)業：在電(dian)子(zi)(zi)產(chan)業中(zhong)，高低溫(wen)循環測試系統被廣泛應用于對(dui)電(dian)子(zi)(zi)元器件的性(xing)(xing)能測試和可靠性(xing)(xing)評估，以(yi)確保產(chan)品的質(zhi)量和穩定性(xing)(xing)。
